日本三豐粗糙度測量儀怎么樣

一、日本三豐粗糙度測量儀特點：

粗糙度測量儀顯示一目了然，操作簡單。配備高可見度7.5英寸TFTLCD屏幕。彩色圖標顯示、觸控式面板，顯示較清晰，操作較簡單。輕松定位使用**控制器內置的操縱桿，輕松、地定位。小孔內側的測量，需要對微小測頭進行微調。利用手動手柄，實現輕松微調。輕松設置表面粗糙度的測量條件。利用配備的簡單輸入功能，可按照ISO/JIS粗糙度標準的繪圖指令符號進行輸入。以往非常麻煩的測量條件設置如今可輕松輸入，從菜單上直接選取表面粗糙度的繪圖指令符號即可。

二、日本三豐粗糙度測量儀技術參數:

X軸(驅動部)

測量范圍:100mm

分辨率:0.05μm

檢測方法:線性編碼器

驅動速度:0-40mm/s

測量速度:0.02-5mm/s

移動方向:向后

直線度:0.15μm/100mm

Z2軸(立柱)

類型:手動操作或電驅動

垂直移動:350mm或550mm*

分辨率*:1μm

檢測方法*:旋轉編碼器

驅動速度*:0-20mm/s

*僅適于電驅動型

檢測器

范圍/分辨率:800μm/0.01μm,80μm/0.001μm,8μm/0.0001μm

檢測方法:無軌/有軌測量

測力:4mN或0.75mN(低測力型)

測針針尖:金剛石、90o/5μmR

(60o/2μmR:低測力型)

導頭曲率半徑:40mm

檢測方法:差動電感式

控制器

顯示:7.5"帶背光的TFT彩顯

打印機:內置熱敏打印機

放大倍率:水平:X10至X500,000、自動

垂直:X0.5至X10,000、自動

驅動裝置的控制:通過操縱桿手動手柄的操作

評估能力

評估輪廓

P(主輪廓),R(表面粗糙度輪廓),WC,WCA,WE,WEA,包絡殘余線、粗糙度motif、波形motif

評估參數Ra,Rc,Ry,Rz,Rq,Rt,Rmax,Rp,Rv,R3z,Sm,S,Pc,mr(c),?c,mr,tp,Htp,Lo,Ir,Ppi,HSC,?a,?q,Ku,Sk,Rpk,Rvk,Rk,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo,?a,?q

粗糙度motif參數:R,AR,Rx

波形motif參數:W,AW,Wx,Wte

分析圖表ADC,BAC,功率譜圖

數顯濾波器2CR-75%,PC-75%、高斯濾波器、魯棒樣條

截止波長0.25μm,0.8μm,2.5μm,8μm,25μm,250μm、無濾波0.025mm,0.08mm,0.25mm,0.8mm,2.5mm,8mm,25mm0.08mm,0.25mm,0.8mm,2.5mm,8mm,25mm、無濾波器采樣長度(L)*0.025mm,0.08mm,0.25mm,0.8mm,2.5mm,8mm,25mm,80mm(僅適于SV-2100)數據補償功能拋物線補償、雙曲線補償、橢圓補償、R平面(曲面)補償、錐面補償、傾斜補償在0.02mm至50mm的范圍內可*任意長度。

三、三豐粗糙度儀性能參數：

型號SV-2100M4SV-2100M4

貨號*(mm)178-636-01178-636-02

貨號*(inch)178-637-01178-637-02

檢測器測力0.75mN4mN

X軸測量范圍100mm

垂直移動350mm電動立柱

花崗巖基座尺寸(WxD)600x450mm

尺寸(主機、WxDxH)716x450x863mm

重量144kg